江蘇常州局部放電檢測(cè)儀局部放電的定義及產(chǎn)生原因在電場(chǎng)作用下，絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電，但尚未擊穿，（即在施加電壓的導(dǎo)體之間沒(méi)有擊穿）。這種現(xiàn)象稱(chēng)之為局部放電。局部放電可能發(fā)生在導(dǎo)體邊上，也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部，發(fā)生在表面的稱(chēng)為表面局部放電。發(fā)生在內(nèi)部的稱(chēng)為內(nèi)部局部放電。而對(duì)于被氣體包圍的導(dǎo)體附近發(fā)生的局部放電，稱(chēng)之為電暈。由此 總結(jié)一下局部放電的定義，指部分的橋接導(dǎo)體間絕緣的一種電氣放電，局部放電產(chǎn)生原因主要有以下幾種：1、電場(chǎng)不均勻。2、電介質(zhì)不均勻。3、制造過(guò)程的氣泡或雜質(zhì)。經(jīng)常發(fā)生放電的原因是絕緣體內(nèi)部或表面存在氣泡；其次是有些設(shè)備的運(yùn)行過(guò)程中會(huì)發(fā)生熱脹冷縮,不同材料特別是導(dǎo)體與介質(zhì)的膨脹系數(shù)不同，也會(huì)逐漸出現(xiàn)裂縫；再有一些是在運(yùn)行過(guò)程中有機(jī)高分子的老化，分解出各種揮發(fā)物，在高場(chǎng)強(qiáng)的作用下，電荷不斷地由導(dǎo)體進(jìn)入介質(zhì)中， 在注入點(diǎn)上就會(huì)使介質(zhì)氣化。二 、局部放電的模擬電路及放電過(guò)程簡(jiǎn)介介質(zhì)內(nèi)部含有氣泡，在交流電壓下產(chǎn)生的內(nèi)部放電特性可由圖1—1的模擬電路(a b c等值電路)予以表示；其中Cc是模擬介質(zhì)中產(chǎn)生放電間隙(如氣泡)的電容；Cb代表與Cc串聯(lián)部分介質(zhì)的合成電容；Ca表示其余部分介質(zhì)的電容。(a) 實(shí)際介質(zhì) 模擬電路I——介質(zhì)有缺陷(氣泡)的部份(虛線表示)II——介質(zhì)無(wú)缺陷部份圖1—1 表示具有內(nèi)部放電的模擬電路圖1—1中以并聯(lián)有—對(duì)火花間隙的電容Cc來(lái)模擬產(chǎn)生局部放電的內(nèi)部氣泡。圖1—2表示了在交流電壓下局部放電的發(fā)生過(guò)程。

江蘇常州局部放電檢測(cè)儀表征局部放電的參數(shù)：視在放電電荷，放電重復(fù)率，放電的能量，放電的平均電流，放電的均方率，放電功率，局部放電起始電壓，局部放電熄滅電壓。2.5、視在放電量q是指在試品兩端注入一定電荷量，使試品端電壓的變化量和局部放電時(shí)端電壓變化量相同。此時(shí)注入的電荷量即稱(chēng)為局部放電的視在放電量，以皮庫(kù)(pC)表示。 實(shí)際上，視在放電量與試品實(shí)際點(diǎn)的放電量并不相等，后者不能直接測(cè)得。試品放電引起的電流脈沖在測(cè)量阻抗端子上所產(chǎn)生的電壓波形可能不同于注入脈沖引起的波形，但通常可以認(rèn)為這二個(gè)量在測(cè)量?jī)x器上讀到的響應(yīng)值相等。 2.6、國(guó)標(biāo)及IEC的局放測(cè)量法─脈沖電流法(ERA)高電壓設(shè)備局部放電時(shí)在試驗(yàn)回路中引起電荷轉(zhuǎn)移，產(chǎn)生高頻電流脈沖,其流過(guò)檢測(cè)阻抗產(chǎn)生電壓脈沖，將此電壓脈沖經(jīng)過(guò)合適帶寬的放大器放大后由儀器測(cè)量、顯示出來(lái)。