江蘇揚(yáng)州局部放電檢測(cè)儀產(chǎn)品概述 局部放電是一種脈沖放電，它會(huì)在電力設(shè)備內(nèi)部和周?chē)臻g產(chǎn)生一系列的光、聲、電氣和機(jī)械的振動(dòng)等物理現(xiàn)象和化學(xué)變化。這些伴隨局部放電而產(chǎn)生的各種物理和化學(xué)變化可以為監(jiān)測(cè)電力設(shè)備內(nèi)部絕緣狀態(tài)提供檢測(cè)信號(hào)。當(dāng)高壓電氣設(shè)備內(nèi)部出現(xiàn)絕緣缺陷時(shí)，會(huì)伴隨有局部放電信號(hào)的產(chǎn)生。通過(guò)對(duì)局放信號(hào)的檢測(cè)和分析，能判斷高壓電氣設(shè)備內(nèi)部是否存在絕緣隱患，防止?jié)撛谑鹿实倪M(jìn)一步擴(kuò)大。我公司研制的局部放電巡檢儀是一種多功能的手持儀器，其基于地電波、超聲波、特高頻及高頻電流檢測(cè)方法，測(cè)試設(shè)備的局部放電情況，可讀出局部放電幅度及圖譜波形，可以提供二維、三維圖譜的存儲(chǔ)以及讀出功能等，可以較好地評(píng)估電氣設(shè)備局部放電情況。局部放電巡檢儀適用于GIS、開(kāi)關(guān)柜、變壓器及電力電纜等電氣設(shè)備的局放檢測(cè)。設(shè)備采用便攜式，操作簡(jiǎn)單，所有的檢測(cè)對(duì)高壓設(shè)備的運(yùn)行不產(chǎn)生任何影響。該產(chǎn)品可以對(duì)測(cè)量信號(hào)多周期觀(guān)察，對(duì)放電進(jìn)行頻率識(shí)別，并通過(guò)多種模式進(jìn)行分析，能夠清楚地判斷故障。局部放電巡檢儀采用了全新的外觀(guān)設(shè)計(jì)，使用了目前較為流行的Android系統(tǒng)，更易于操作使用，另外集成了500萬(wàn)攝像頭拍照功能方便進(jìn)行巡檢記錄；RFID利于擴(kuò)展物聯(lián)網(wǎng)的應(yīng)用；內(nèi)部集成了放電類(lèi)型庫(kù)，便于對(duì)放電情況的對(duì)比核實(shí)。

江蘇揚(yáng)州局部放電檢測(cè)儀常用試驗(yàn)回路和試驗(yàn)形式5.1、常用試驗(yàn)回路（試品接入輸入單元的方法）5.1.1標(biāo)準(zhǔn)接法電路-并聯(lián)法：試品電容Cx與輸入單元并聯(lián)，它適合于必須接地的試品，這個(gè)電路的缺點(diǎn)是試驗(yàn)變的雜散電容和試品電容Cx并聯(lián)，這雜散電容對(duì)于大容量試品來(lái)說(shuō)固然可以忽略，而對(duì)于小電容試品來(lái)說(shuō)容易引起誤差，當(dāng)然，采用正確的獨(dú)立小方波直接校正法可以避免這種誤差。圖二：并聯(lián)法5.1.2、串聯(lián)法：它實(shí)際上是將Cx與Ck互換一下，讓試品電容Cx與輸入單元串聯(lián)，這種電路要求試品低壓端對(duì)地懸浮，其好處是變壓器對(duì)地雜散電容與耦合電容并聯(lián)。在試品電容小于對(duì)地雜散電容時(shí)可以不接耦合電容器，讓對(duì)地雜散電容來(lái)代替Ck，可給試驗(yàn)帶來(lái)簡(jiǎn)便。本電路的主要缺點(diǎn)是試品高壓擊穿時(shí)可能損壞輸入單元。圖三：串聯(lián)法5.1.3、平衡法：它要求兩個(gè)試品相似，至少電容是同一數(shù)量級(jí)，為了使測(cè)量結(jié)果好，兩試品的介質(zhì)損耗角正切，尤其是它們的頻率關(guān)系相同。本電路的優(yōu)點(diǎn)是可以部分抑制外來(lái)干擾，并可變壓器對(duì)地雜散電容的影響，也可比不平衡電路的試驗(yàn)電壓取得高。它的缺點(diǎn)是，除了需要相似的兩個(gè)試品外，當(dāng)產(chǎn)生放電時(shí)，必須辨別是哪個(gè)試品放電。圖四：平衡法5.1.4、橋式法：這種電路的主要優(yōu)點(diǎn)是對(duì)外來(lái)干擾有額外的抑制作用，因?yàn)橥ㄟ^(guò)電橋的平衡來(lái)抑制掉外干擾的影響，抑制比很高。其缺點(diǎn)是試驗(yàn)電路復(fù)雜，限制條件多，對(duì)試驗(yàn)人員技術(shù)水平有較高要求。圖五：橋式法5.2、常用試驗(yàn)形式5.2.1、工頻試驗(yàn)5.2.2、中頻試驗(yàn)5.2.3、工頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)圖六：局部放電試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)接法電路（直接法的并聯(lián)法）圖中：A－輸入單元的初級(jí)始端；B－輸入單元的初級(jí)末端，C－輸入單元的初級(jí)中心抽頭，E－輸入單元地。