黑龍江手持式超聲波局部放電檢測(cè)儀使用方法1、使用者佩帶好耳機(jī)，手持巡線儀，打開(kāi)電源手指扣住板機(jī)，激光對(duì)準(zhǔn)檢測(cè)對(duì)象，聽(tīng)是否有嘟嘟聲或看顯示器有無(wú)波形即可。2、制定掃描周期：一般一個(gè)月一次，對(duì)發(fā)出聲音小的設(shè)備十天一次，對(duì)發(fā)出聲音比較大的設(shè)備一周一次，對(duì)發(fā)出聲音的設(shè)備三天一次。使用單位根據(jù)自己的實(shí)際情況可制定適合自己的帶電監(jiān)測(cè)周期方案。3、帶電監(jiān)測(cè)不同于停電檢測(cè)，停電測(cè)試往往是根據(jù)規(guī)程規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)一次測(cè)試就可確定數(shù)據(jù)是否合格，設(shè)備有無(wú)故障；帶電監(jiān)測(cè)必須看帶電監(jiān)測(cè)的數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì)，一般正常情況下，一次高壓設(shè)備在帶電運(yùn)行時(shí)，用儀器監(jiān)測(cè)其超聲波背景噪音應(yīng)該是寂靜的。對(duì)于相鄰的同一類(lèi)設(shè)備在同一時(shí)間段進(jìn)行掃描，橫向?qū)Ρ绕浒l(fā)出的聲音的大小，按聲音的大小把這些劃分為重點(diǎn)監(jiān)測(cè)對(duì)象、一般監(jiān)測(cè)對(duì)象、忽略對(duì)象(基本沒(méi)有聲音的設(shè)備)。對(duì)于重點(diǎn)監(jiān)測(cè)對(duì)象制定不同時(shí)間的縱比監(jiān)測(cè)周期計(jì)劃，比如十天監(jiān)測(cè)一次、一周監(jiān)測(cè)一次、嚴(yán)重的三天監(jiān)測(cè)一次，看其超聲波信號(hào)的發(fā)展變化趨勢(shì)。經(jīng)幾個(gè)周期監(jiān)測(cè)聲音越來(lái)越大，對(duì)其進(jìn)行具體趨勢(shì)分析，排除負(fù)載過(guò)大等正常原因后，聲音還是越來(lái)越大，就可確定該設(shè)備有嚴(yán)重的放電等問(wèn)題，不停電查找原因就要發(fā)生絕緣擊穿等重大事故，將嚴(yán)重影響整個(gè)電力系統(tǒng)的運(yùn)行。

黑龍江手持式超聲波局部放電檢測(cè)儀 非接觸超聲法將傳感器放在設(shè)備外殼縫隙處，適用于高壓開(kāi)關(guān)柜、環(huán)網(wǎng)柜的局放檢測(cè)，能有效檢出氣體雜質(zhì)，技術(shù)參數(shù)：檢測(cè)頻率：中心頻率40kHz；測(cè)量范圍：0～80dBμV；靈敏度：-65dB（0dB ＝ 1volt/ubar?有效值SPL）。2.3.3 超聲法a）、接觸式超聲傳感器將傳感器貼在外殼表面，適用于GIS、變壓器、全絕緣開(kāi)關(guān)柜（環(huán)網(wǎng)柜）的局放檢測(cè)，能有效檢出固體絕緣缺陷，技術(shù)參數(shù)：檢測(cè)頻率：20～200kHz；測(cè)量范圍：0-30mV；靈敏度：≤5 Pc。b）、非接觸式超聲傳感器將非接觸式超聲傳感器正對(duì)開(kāi)關(guān)柜，等電氣設(shè)備的的縫隙處，可有效檢測(cè)出開(kāi)關(guān)柜等非封閉設(shè)備的絕緣缺陷；諧振頻率：40kHz；動(dòng)態(tài)范圍：-6～80dBuV。2.3.4 UHF超高頻法將傳感器置于盆式絕緣子處，適用于GIS、HGIS局放檢測(cè),技術(shù)參數(shù)：檢測(cè)頻率：300～1500MHz；靈敏度：≤1PC（實(shí)驗(yàn)室環(huán)境）。2.3.5 暫態(tài)地電壓（TEV）法將傳感器貼在開(kāi)關(guān)柜外殼表面，適用于高壓開(kāi)關(guān)柜（環(huán)網(wǎng)柜）的局放檢測(cè)，技術(shù)參數(shù)：信號(hào)采集：電容耦合；頻率范圍：3～100MHz；測(cè)量范圍：0～60dB/mV；靈敏度：1mV。

黑龍江手持式超聲波局部放電檢測(cè)儀依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)本儀器引用的標(biāo)準(zhǔn)主要有：DL/T500-2009電壓檢測(cè)儀使用技術(shù)條件GB/T4208-2008外殼防護(hù)等級(jí)的分類(lèi)（IP代碼）GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) A: 低溫試驗(yàn)方法GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) B: 高溫試驗(yàn)方法GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn) Db: 交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.5-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊試驗(yàn)方法GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則:振動(dòng) (正弦)試驗(yàn)方法GB/T17626.2-2006電磁兼容性試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度性試驗(yàn)（IEC 61000-4-2：1995）GB/T17626.3-2006電磁兼容性試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)（ IEC 61000-4-3：1995）GB/T17626.4-2008電磁兼容性 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 快速瞬變電脈沖群抗擾度試驗(yàn)（ IEC 61000-4-4：1995）GB/T17626.5-2008電磁兼容性試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)（ IEC 61000-4-5：1995）GB/T17626.11-1999電磁兼容性試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)（ IEC 61000-4-11：1994）GB/T17626.7-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則GB/T19862-2005工業(yè)自動(dòng)化儀表絕緣電阻、絕緣強(qiáng)度技術(shù)要求和試驗(yàn)方法3、功能說(shuō)明本儀器主要由主機(jī)、傳感器和電纜線組成，主機(jī)外觀如圖1：圖1 主機(jī)3.1主機(jī)內(nèi)置高速AD采集卡、TFT液晶顯示器、主處理器和鋰電池及其管理板。使用FPGA對(duì)高速采樣芯片進(jìn)行控制，如啟動(dòng)采樣、停止采樣、數(shù)據(jù)同步、高速數(shù)據(jù)存取以及數(shù)據(jù)通信。