西藏發(fā)電機(jī)特性綜合測(cè)試儀系數(shù)表校正如果發(fā)現(xiàn)某個(gè)通道的數(shù)據(jù)與校正表的數(shù)據(jù)有差別，可點(diǎn)擊軟件運(yùn)行后的《選項(xiàng)》菜單中的“系數(shù)表”，通過更改通道系數(shù)來校正通道。比如：發(fā)現(xiàn)If通道或Ilf通道的值偏小，假如測(cè)量值為800A，校正值為1000A，用校正值/測(cè)量值1000/800＝1.25，與該通道系數(shù)相乘，得到的值添入該通道系數(shù)欄中。原通道系數(shù)為1，乘得到的比值1.25，1×1.25＝1.25，用1.25替換原通道系數(shù)1。同樣，如果發(fā)現(xiàn)Vab或Ia的測(cè)量值與校正值有偏差，可用（校正值/測(cè)量值）得到的值與該通道系數(shù)相乘，得到的值替換原系數(shù)。比如Vab的測(cè)量值為1000V，校正值為800 V，用校正值/測(cè)量值800/1000＝0.8，與該通道系數(shù)（150）相乘（0.8×150＝120），用得到的值120替換原通道系數(shù)150。在通道系數(shù)校正之后，點(diǎn)擊右上角的確定按鈕。九、注意事項(xiàng)1、在進(jìn)行發(fā)電機(jī)空載和短路試驗(yàn)時(shí)，在每個(gè)測(cè)試點(diǎn)上需停留10多秒鐘，以保證測(cè)試的準(zhǔn)確性，尤其是在曲線的下降階段。圖A 在測(cè)試點(diǎn)上未停留足夠時(shí)間造成的畸點(diǎn)。圖 B 正常測(cè)量圖形2、直流通道在不使用時(shí)，用短路線短接。3、接線完畢后，一定要檢查是否接好，尤其是電流二次量。

西藏發(fā)電機(jī)特性綜合測(cè)試儀滅磁時(shí)間常數(shù) 對(duì)于發(fā)電機(jī)滅磁時(shí)間常數(shù)的計(jì)算，需要選擇試驗(yàn)曲線起始點(diǎn)，即曲線上開始下降的那一點(diǎn)，用對(duì)話框中基點(diǎn)提示框中的箭頭來選取，同時(shí)觀察曲線上十字叉的走向和對(duì)話框中基點(diǎn)值的變化，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)計(jì)算出起始點(diǎn)到0.368處的滅磁時(shí)間超調(diào)量δ 對(duì)于發(fā)電機(jī)零起、階躍試驗(yàn)的分析計(jì)算，需要選擇試驗(yàn)曲線起始點(diǎn)和穩(wěn)定后的位置點(diǎn)，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)給出超調(diào)量δ，調(diào)整時(shí)間t。對(duì)于10％階躍試驗(yàn)，還要告訴系統(tǒng)具體試驗(yàn)類型，如果是－10％階躍，則選取對(duì)話框中的負(fù)10％階躍。波動(dòng)次數(shù)要求用戶根據(jù)波形的分析變化來填入，而非系統(tǒng)自動(dòng)填入。對(duì)于系統(tǒng)給出的數(shù)據(jù)錄入功能，使用時(shí)要注意，對(duì)于同一機(jī)組同一次檢修后的不同試驗(yàn)類型，在時(shí)間的輸入上要有間隔區(qū)別，那怕是分鐘上的區(qū)別也可以，防止不同試驗(yàn)數(shù)據(jù)沖消。本系統(tǒng)還有數(shù)據(jù)編輯功能（數(shù)據(jù)編輯功能的使用是防止用戶在數(shù)據(jù)輸入時(shí)的疏忽，以備修改使用）、數(shù)據(jù)打印以及波形打印功能，其操作很方便，每一步都有相應(yīng)提示，這里不再贅述。對(duì)于試驗(yàn)參數(shù)的變比，如果是通過PT、CT 得到的二次量或通過直流分流器得到的75mV量，則在變比中填入一次量值，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)得到變比值，如發(fā)電機(jī)定子電壓Uab一次到二次的PT標(biāo)稱值為10500/100，則在變比中直接填入10500。如果是將直流勵(lì)磁機(jī)（發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子）的電壓Uf直接接入，變比添1。如果是交流勵(lì)磁機(jī)定子電壓Uabf直接接入，則變比填100。