浙江工頻高壓局放試驗裝置 局部放電測試電路的三種基本接法及優(yōu)缺點。并聯(lián)法）串聯(lián)法 平衡法（1）標(biāo)準(zhǔn)試驗電路，又稱并聯(lián)法。適合于必須接地的試品。其缺點是高壓引線對地雜散電容并聯(lián)在 CX上，會降低測試靈敏度。（2）接法的串聯(lián)法，其要求試品低壓端對地浮置。其優(yōu)點是變壓器入口電容、高壓線對地雜散電容與耦合電容CK并聯(lián)，有利于提高試驗靈敏度。缺點是試樣損壞時會損壞輸入單元。（3）平衡法試驗電路：要求兩個試品相接近，至少電容量為同一數(shù)量級其優(yōu)點是外干擾強烈的情況下，可取得較好抑制干擾的效果，并可變壓器雜散電容的影響，而且可做大電容試驗。缺點是須要兩個相似的試品，且當(dāng)產(chǎn)生放電時，需設(shè)法判別是哪個試品放電。值得提出的是：由于現(xiàn)場試驗條件的限制（找到兩個相似的試品且要保證一個試品無放電不太容易），所以在現(xiàn)場平衡法比較難實現(xiàn)，另外，由于采用串聯(lián)法時，如果試品擊穿，將會對設(shè)備造成比較大的損害，所以出于對設(shè)備保護的想法，在現(xiàn)場試驗時一般采用并聯(lián)法。